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Indexed by:会议论文
Date of Publication:2004-11-05
Page Number:110-112
Key Words:电喷雾质谱;源内CID;络合染料;铼联吡啶络合物;钌联吡啶络合物;光敏染料
Abstract:利用电喷雾质谱(ESI-MS)的源内CID(in-source Collision Induced Degradation,in-soure CID)对2,2'-联吡啶-4,4'-二羧酸乙酯与铼络合染料(化合物1)和钌络合染料(化合物2)进行研究,表征了络合物及其配体的相对稳定性.
