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含弱界面结构断裂分析中辛方法

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Indexed by:期刊论文

Date of Publication:2016-03-25

Journal:大连理工大学学报

Included Journals:PKU、ISTIC、CSCD、Scopus

Volume:56

Issue:2

Page Number:111-117

ISSN No.:1000-8608

Key Words:哈密顿体系;辛方法;应力强度因子;弱界面

Abstract:基于哈密顿体系,提出了一种分析含弱界面弹性材料断裂问题的辛方法。通过引入对偶变量,建立基本问题的哈密顿体系。在该体系下,问题的解可被辛本征解的级数形式所表示。利用辛本征解之间的辛共轭正交关系,以及裂纹面条件、弱界面条件和结构外边界条件,可确定辛本征解级数的待定系数,从而得到问题的解。这样,可以获得Ⅰ型和Ⅱ型广义应力强度因子解析表达式。数值结果揭示了各种边界条件对应力强度因子的影响,同时也表明该方法对复杂的混合边界条件问题更有效。

Pre One:The Dynamic Behavior of Circular Plates Under Impact Loads

Next One:Accurate buckling solutions of grid-stiffened functionally graded cylindrical shells under compressive and thermal loads