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Indexed by:会议论文
Date of Publication:2007-06-23
Page Number:88-89
Key Words:微流控芯片;连续分离;样晶稀释;流场仿真
Abstract:本文通过建立微流控芯片的沟道模型及分离时沟道内流场的仿真，分析了连续分离过程中样品稀释的原因及其产生的影响。通过实验验证了该仿真结果并在仿真的基础上修改了了分离时的电参数，有效地抑制了样品稀释的现象。
Pre One:连续电泳分离过程中峰值偏差的分析
Next One:微通道壁面突起对片上电泳分离流动特性影响数值计算研究
