Release Time:2019-03-11  Hits:

Indexed by: Conference Paper

Date of Publication: 2009-10-01

Volume: Vol.37

Page Number: 1

Key Words: 复合纳米粒子;荧光探针;荧光强度变化;稀土配合物;数据失真;荧光测定;微乳液法;透射电子显微镜;荧光光谱仪;荧光分析;

Abstract: 比率荧光测定技术是荧光分析中的一项重要技术,使用荧光探针的两个选择性波长在与反应物反应后的荧光强度变化的比值作为定量信号可有效消除探针、样品及设备等因素引起的数据失真,从而得到更准确的结果。稀土配合物的发光只与稀土离子和配体的性质有关,很少受其它因素的影响,最