Release Time:2019-03-10 Hits:
Indexed by: Journal Article
Date of Publication: 2009-01-01
Journal: 分析化学
Volume: 37
Issue: z1
Page Number: 101
ISSN: 0253-3820
Abstract: 比率荧光测定技术是荧光分析中的一项重要技术,使用荧光探针的两个选择性波长在与反应物反应后的荧光强度变化的比值作为定量信号可有效消除探针、样品及设备等因素引起的数据失真,从而得到更准确的结果.