Current position: Home >> Scientific Research >> Patents

一种利用单端口阻抗和灵敏度测量耦合线圈参数的方法

Release Time:2019-10-12  Hits:

First Author: Chen Xiyou

Disigner of the Invention: 张泽然,Guanlin Li,牟宪民,周宇翔

Application Number: CN201510992969.6

Authorization Date: 2015-12-25

Authorization Number: CN105653848A

Prev One:一种利用单端口阻抗测量值测算无线电能传输系统稳态性能的方法

Next One:一种对分数阶单调谐LC滤波器进行设计的方法