|
个人信息Personal Information
高级工程师
硕士生导师
任职 : 微电子实验教学中心主任
性别：男
毕业院校：大连理工大学
学位：博士
所在单位：集成电路学院
学科：微电子学与固体电子学. 光学工程
办公地点：辽宁省大连市大连经济技术开发区图强街321号大连理工大学开发区校区教学楼C区503室
联系方式：0411-62273210
电子邮箱：shjiank@dlut.edu.cn
扫描关注
SiN插入层对GaN外延膜应力和光学质量的影响
点击次数：
论文类型：期刊论文
发表时间：2013-08-15
发表刊物：发光学报
收录刊物：PKU、ISTIC、CSCD、EI、Scopus
卷号：34
期号：8
页面范围：1017-1021
ISSN号：1000-7032
关键字：SiN 应力弛豫 插入层 SiN strain relief insertion layer
摘要：研究了MOCVD系统中原位SiN插入层对GaN薄膜应力和光学性质的影响.采用SiN插入层后,GaN薄膜的裂纹数量大大减少,薄膜所承受的张应力得到了一定的释放.同时,GaN薄膜的缺陷密度降低一倍,晶体质量得到了极大的改善.研究表明,位错密度的降低在GaN薄膜中留存较大的残余应力,补偿了降温过程中所引入的张应力.同样,随着SiN插入层的应用,低温PL谱的半峰宽降低,薄膜光学质量提高.最后研究了PL谱发光峰与应力的关系,得到了一个-13.8的线性系数.