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Indexed by:期刊论文

Date of Publication:2015-05-10

Journal:无损检测

Included Journals:ISTIC

Volume:37

Issue:5

Page Number:18-21

ISSN No.:1000-6656

Key Words:超声衍射时差法;合成孔径聚焦技术;缺陷长度定量;变角度解卷积

Abstract:针对超声衍射时差（TOFD）方法中由于存在甩弧现象导致缺陷长度测量误差大的问题，借助 CIVA 仿真软件及合成孔径聚焦技术（SAFT），对长度范围5．0～45．0 mm 的9个矩形槽的 D 扫图像进行处理与重建。结果表明，D-SAFT 处理技术能够有效降低干扰衍射信号的影响，使缺陷甩弧现象减弱甚至消失，缺陷最大测量误差由处理前的最大5．0 mm 降低至0．6 mm。此外，对 Farhang 等人提出的变角度解卷积（ADD）结合 SAFT 方法（SAFTADD）在提高 TOFD 缺陷定量精度上的应用前景进行了展望。