点击次数：

论文类型：期刊论文

发表时间：2007-05-15

发表刊物：真空科学与技术学报

收录刊物：Scopus、EI、PKU、ISTIC、CSCD

卷号：27

期号：3

页面范围：190-194

ISSN号：1672-7126

关键字：双断口真空开关;动态介质恢复;鞘层;暂态恢复电压

摘要：从双断口真空开关的等值模型出发,分析了双断口真空开关的动态介质恢复过程,说明只要恢复电压的峰值和上升速度低于某一极限值,整个双断口真空开关并不会因为一个灭弧室发生重击穿而导致开断失败.这是因为另一个真空灭弧室的介质强度仍可能高于此时的恢复电压,它还可以承受整个恢复电压一个比较短的时间,当重击穿的真空灭弧室的介质恢复以后,共同完成分断过程.仿真计算和试验结果表明,由于各真空灭弧室断口的恢复电压分布不均匀,使得各灭弧室弧后电荷鞘层的发展不同,进而影响了各自的实际介质恢复特性.这可以解释双断口及多断口真空开关与单断口真空开关相比开断能力有显著提高的机理.