Release Time:2019-03-11  Hits:

Indexed by: Journal Article

Date of Publication: 2010-01-01

Journal: 光学学报

Included Journals: CSCD、ISTIC、PKU、EI、Scopus

Volume: 30

Issue: 10

Page Number: 2776-2781

ISSN: 0253-2239

Key Words: 成像系统; 无损检测; 红外热像法; 锁相; 缺陷

Abstract: 锁相红外热像技术由于其实时,快速,无损以及非接触等优点,被逐渐应用于疲劳研究中.基于锁相红外热像理论,用法国Cedip公司开发的锁相红外热像系统
   对含缺陷的疲劳试件进行了无损检测,并快速测得了其疲劳极限.结果表明,相位图比幅值图能提供的缺陷内部信息,恰当选择检测频率是无损检测的关键,缺陷面
   积越大检测精度越高.随缺陷深度的增加,疲劳试件的疲劳极限降低