张建伟
个人信息Personal Information
教授
博士生导师
硕士生导师
性别:男
毕业院校:哈尔滨工业大学
学位:博士
所在单位:控制科学与工程学院
学科:微电子学与固体电子学
电子邮箱:jwzhang@dlut.edu.cn
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一种采用单双跳变的低功耗确定性BIST方案
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论文类型:期刊论文
发表时间:2016-11-30
发表刊物:哈尔滨工业大学学报
收录刊物:EI、PKU、ISTIC、CSCD、Scopus
卷号:48
期号:11
页面范围:96-102
ISSN号:0367-6234
关键字:扭环计数器;低功耗;确定性;测试向量生成器;单跳变
摘要:为实现低功耗和高故障覆盖率,基于单跳变测试技术和2-bit扭环计数器,提出一种新型的单双跳变的确定性测试向量产生器.首先,与一般的确定性测试方案直接存储确定性种子不同,利用ROM存储控制信号并通过单双跳变生成确定性种子和确定性测试向量,这样控制信号的长度约为确定性种子的1/2,有利于降低功耗并节约存储空间.其次,2-bit减法计数器合理地过滤了冗余向量,大大缩短了测试时间并降低总体能耗.最后,为了适应不同的测试需求,还设计了相应的测试向量压缩算法和三种x指定算法.实验结果表明,平均功耗分别降低了42.36%、32.32%、38.94%,测试长度分别减少了77.6%、86.1%、84.3%,测试数据分别压缩了79.4%、65.2%、68.1%.