Title of Paper:含缺陷疲劳试件的锁相红外热成像无损检测

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Date of Publication:2010-01-01

Journal:光学学报

Included Journals:Scopus、EI、PKU、ISTIC、CSCD

Volume:30

Issue:10

Page Number:2776-2781

ISSN No.:0253-2239

Key Words:成像系统; 无损检测; 红外热像法; 锁相; 缺陷

Abstract:锁相红外热像技术由于其实时,快速,无损以及非接触等优点,被逐渐应用于疲劳研究中.基于锁相红外热像理论,用法国Cedip公司开发的锁相红外热像系统
   对含缺陷的疲劳试件进行了无损检测,并快速测得了其疲劳极限.结果表明,相位图比幅值图能提供的缺陷内部信息,恰当选择检测频率是无损检测的关键,缺陷面
   积越大检测精度越高.随缺陷深度的增加,疲劳试件的疲劳极限降低