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基于压电阻抗法的热障涂层热生长氧化层无损检测方法

Release Time:2019-03-09  Hits:

First Author: 林莉

Disigner of the Invention: 雷明凯,李喜孟,LUO Zhongbing,陈军,李继承

Application Number: CN201110179939.5

Authorization Date: 2011-06-30

Authorization Number: CN102353700A

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