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Indexed by:期刊论文
Date of Publication:1992-01-01
Journal:大连理工大学学报
Included Journals:PKU、CSCD
Volume:32
Issue:6
Page Number:644
ISSN No.:1000-8608
Key Words:亚毫微秒速度; 高均匀性; 多元逻辑电路
Abstract:就如何同时实现多元逻辑电路中线性“与或”门的高速和高均匀性进行 了理论分析和实验验证。理论分析给出了平均延迟时间和均匀性的函数表达 式;指出在影响电路速度和均匀性的诸多因素中,复合晶体管的发射结面积 是一个关键因素,并依此进行了样品电路的优化设计和工艺制造。测试结果 表明,单门平均延迟时间为 0.22 ns,功耗延迟积为 0.55 pJ.在输入一致条 件下(0~4 V),各单门电路之间输出不均匀性误差小于等于4 mV.