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论文类型：期刊论文

发表时间：2007-09-15

发表刊物：大连理工大学学报

收录刊物：Scopus、EI、PKU、ISTIC、CSCD

卷号：47

期号：5

页面范围：740-745

ISSN号：1000-8608

关键字：真空开关;击穿电压增益;击穿弱点;统计特性

摘要：从长间隙真空开关的击穿特性出发,理论推导得到双断口及多断口真空开关的击穿电压最大可能增益倍数Kn,同时引入"击穿弱点"概念和概率统计方法,分析建立了双断口及多断口真空开关的静态击穿统计分布模型,发现无论是双断口真空开关还是n个断口串联起来,其击穿的统计概率都要比单断口的击穿统计概率要小.为了进行实验论证,建立了三断口真空开关实验模型,对单断口真空灭弧室模型和三断口真空开关实验模型进行了大量的冲击击穿特性实验.研究表明,三断口真空灭弧室相比单断口真空灭弧室具有更低的击穿概率.试验数据与理论分布曲线基本吻合,证明理论研究结果正确.