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论文类型：期刊论文

发表时间：2013-10-25

发表刊物：无损探伤

卷号：37

期号：5

页面范围：10-13

ISSN号：1671-4423

关键字：薄层;超声检测;声压反射系数;自相关函数;信噪比

摘要：利用声压反射系数良好的自相关特性和与噪声无相关性等特点,提出了基于声压反射系数自相关函数测量薄层厚度的方法.与传统的声压反射系数幅度谱测量方法相比,本方法能够适用于窄频带超声探头和低信噪比信号下的薄层厚度测量.对于声压反射系数幅度谱中只有一个谐振频率以及低信噪比情况,传统的频谱分析方法难以获取谐振频率导致无法进行厚度测量时,本方法仍能准确测得薄层厚度.实验结果验证了该方法的正确性和可行性.