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专利名称：基于频谱分析原理减小TOFD检测近表面盲区的方法

第一作者：林莉

发明设计人：李喜孟,杨会敏,谢雪,刘丽丽,罗忠兵,赵天伟,张树潇,张东辉,陈春林,严宇

申请号：CN201310508087.9

授权日期：2013-10-24

授权号：CN103543208A

发布时间：2019-03-09