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专利名称：基于压电阻抗法的热障涂层热生长氧化层无损检测方法

第一作者：林莉

发明设计人：雷明凯,李喜孟,罗忠兵,陈军,李继承

申请号：CN201110179939.5

授权日期：2011-06-30

授权号：CN102353700A

发布时间：2019-03-09