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专利名称：基于Burg算法的自回归谱外推技术提高TOFD检测纵向分辨率的方法

第一作者：林莉

发明设计人：杨会敏,雷明凯,张东辉,谢雪,刘丽丽,罗忠兵,张树潇,金士杰,赵天伟,康达

所属单位：材料科学与工程学院

申请号：CN104897777A

授权号：CN201510335255.8

发布时间：2022-10-19