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个人信息Personal Information
教授
博士生导师
硕士生导师
性别：男
毕业院校：清华大学
学位：博士
所在单位：控制科学与工程学院
学科：控制理论与控制工程. 凝聚态物理. 微电子学与固体电子学
电子邮箱：dwang121@dlut.edu.cn
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偏压温度应力下SiC MOSFET器件可靠性劣化的物理机制
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发表时间：2025-10-24
发表刊物：微电子学
卷号：55
期号：04
页面范围：669-677
ISSN号：1004-3365
关键字：bias temperature stress; hot carrier injection; interface traps; reliability; SiC MOSFET
CN号：50-1090/TN