秦福文
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氮化镓基薄膜(GaN、AlN、InN)及器件的ECR-PEMOCVD低温生长研究(室温至600℃);
氮化硅(Si3N4)及氧化铝(Al2O3)薄膜的低温生长研究;
玻璃、金刚石、氮化镓及金属衬底上氧化镓(Ga2O3)薄膜的ECR-PEMOCVD低温生长研究(室温至500℃)。