秦福文
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专利名称:一种SiC MOSFET器件低温稳定性的评价测试方法
第一作者:王德君
发明设计人:孙雨浓,杨超,秦福文
所属单位:电子信息与电气工程学部
申请号:ZL 2018 1 1163919.7
发布时间:2022-10-19
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